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  • MProbe系列膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)
    MProbe系列膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)
    膜厚測量儀(測量厚度1nm~1.8mm)美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm,厚至1.8mm,埃級分辨率,非接觸式無損快速測量。廣泛應用在各種生產或研究中,比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層,觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
    型號:MProbe系列    廠商性質:代理商
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